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透過型電子顕微鏡(TEM)の電子線回折像(Diffraction)を解析
工学や理学の材料・物性分野で使われる、透過型電子顕微鏡(TEM)の電子線回折像(Diffraction)を解析するソフトです。 このソフトによって、特に多結晶・粉末状試料・ナノ粒子の回折像から、物質の構造を解析し、物質を同定することができます。
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